Abstract

Polarized synchrotron-based attenuated total-reflection infrared (ATR–IR) spectra of crystals of natural zircon of various origins and degree of disorder are reported. We demonstrate the potential of ATR–IR microspectroscopy for non-destructive structural analysis of zircon microcrystals. Disorder-related IR absorption at wavenumbers lower than the bands arising from the fundamental A2u3(SiO4)] and Eu3(SiO4)] zircon modes was observed, which reveals the existence of spatial regions with abundant SiO4 tetrahedra with longer bonds. A pronounced peak near 990 cm−1 is indicative of an abundance of polymerized SiO4 tetrahedra. Weak signals in the range 1050–1250 cm−1 show connectivity defects (broken Si–O–Zr bridges) and the existence of shorter Si–O bonds.

Abstract

Nous présentons les spectres polarisés dans l’infrarouge du zircon naturel d’origines et degrés de désordre variés, mesurés en réflexion totale atténuée (ATR–IR) avec rayonnement synchrotron. Nous démontrons le potentiel que possède la microspectroscopie ATR–IR dans l’analyse structurale non-destructive de microcristaux de zircon. Nous avons observé l’absorption IR liée au désordre à des nombres d’ondes plus faibles que les bandes résultant des modes fondamentaux du zircon, A2u3(SiO4)] et Eu3(SiO4)], ce qui révèle l’existence de régions spatiales contenant un grand nombre de tétraèdres SiO4 ayant des liaisons plus longues. Une bande d’absorption prononcée près de 990 cm−1 indique un grand nombre de tétraèdres SiO4 polymérisés. Des bandes de faible intensité dans l’intervalle 1050–1250 cm−1 démontrent des défauts de connectivité (liaisons Si–O–Zr brisées) et l’existence de liaisons Si–O plus courtes.

(Traduit par la Rédaction)

You do not currently have access to this article.